ポリクロメータ式 光スペクトラムアナライザだからこそ実現できる
高分解能リアルタイム高速測定
マルチモードファイバにより精密な光学調整からも解放
特長
瞬間的なスペクトル挙動を捉える
分光した光をイメージセンサで多波長同時に、高速で検出可能なポリクロメータの原理により、一定範囲の波長を同時測定し続けるため、瞬間的にしか発生しないスペクトルを測定できます。モードホップを捉えたり、パルスレーザーの測定も可能です。レーザーの研究開発や異常検知に貢献します。
最小積分時間（Si type：6 μs～、InGaAs type：21 μs～）ごとにスペクトルを切り出せます。
モードホップ測定の様子
半導体レーザー（波長：1060 nm）
その他のレーザー測定例（動画）はこちら
リアルタイムにスペクトルを可視化する
連続的かつ高速に多波長を測定することで、スペクトルをリアルタイムに可視化できます。
スペクトルの様子を見ながら調整したり、温度や電流の変動に伴うスペクトル変化からレーザーの安定性を評価できます。
調整時間・測定時間を短縮する
マルチモードファイバ（MMF）入力により、精密なアライメント調整は不要で、セットアップ時間を短縮できます。
また、複数波長を瞬時に測定するため、スペクトルの高速測定が可能です。マルチモードファイバでも高分解能であり、効率的なスペクトル測定を実現します。
※InGaAs typeはシングルモードファイバにも標準で対応しています。
デモ機の貸出も行っております
リアルタイム測定と使いやすさをお試しください
スペクトル挙動を可視化するソフトウェア
PC制御で直感的に操作できます。ソフトウェアはレーザー測定をサポートする機能を備えており、簡単にスペクトル挙動を可視化できます。
制御ライブラリDLL（C#）を提供しています。電流特性や温度特性の自動測定など、ご用途に最適化した自作ソフトウェアの開発が可能です。
製品ラインアップ
紫外・可視・近赤外（UV・VIS・NIR）に対応した「Si type」と、近赤外・短波長赤外（NIR・SWIR）に対応した「InGaAs type」があります。
・対応波長：185～1095 nm
・波長分解能 40 pm以下で高速測定
・対応波長：950～1700 nm
・波長分解能 50 pm以下で高速測定
・高ダイナミックレンジ測定（60 dB）にも対応可
用途事例
SPG-V500は、高分解能でリアルタイム・高速測定が可能です。その特長を活かし、以下のような用途にお使いいただけます。
- モードホップ測定
瞬間的なスペクトルの変化を捉えられるため、モード競合の状態からモードホップ発生までを連続して測定・記録できます。温度や電流の変化による波長シフトを捉えることで、モードホップ発生要因の特定に貢献します。レーザー製造工程でのモードホップ検査にも使えます。
半導体レーザー（波長：880 nm）
その他のレーザー測定例（動画）はこちら
- スペクトルのリアルタイムモニタ
スペクトルの変化をリアルタイムで可視化しながら調整作業を行えます。調整と測定を同時に行うことができ、円滑で効率的な組立調整を可能にします。
- 検査の自動化
制御ライブラリDLL（C#）を提供しており、他機器と連携した制御も可能です。光入力が容易なマルチモードファイバを使えるため、検査の自動化に最適です。
- サイドモード抑圧比（SMSR）の高速測定
InGaAs typeでは、高ダイナミックレンジモード※を追加することで、最高60 dBのサイドモード抑圧比（SMSR）を1秒以下で測定できます。
※オプション機能
- UVレーザー光源のスペクトル測定
Si typeは、1台で185 nm～1095 nmの波長範囲に対応しています。エキシマレーザー（193 nm）など深紫外域のレーザー光源も測定可能です。
モードホップ・モード競合を捉える
●モードホップ抑制と、レーザー出力の安定化
●単一周波数レーザーのサイドピーク抑制
パルス光を捉える
レーザーの品質評価・検査を効率化する
●半導体レーザー（LD）の波長検査を自動化
●レーザースペクトルの電流特性・温度特性評価
●LDベアチップの詳細スペクトル検査
●面発光レーザー（VCSEL）や自動運転向けセンサ（LiDAR）の波長の全数検査
●エキシマレーザー（193 nm）の測定
●多波長レーザー光源の連続測定（波長測定）
レーザーの光学調整を短縮する
●外部共振型レーザーの調整時間を短縮
●266 nmレーザーの基本波～第4高調波のスペクトル測定
●シングルモードレーザーにおけるサイドモードの挙動検出
ユーザーインタビュー
