カルニュー精密屈折計受託測定サービス

サービス概要

弊社の製品であるカルニュー精密屈折計KPR-3000を用いた屈折率の測定を承ります。
KPR-3000は測定にVブロック式を採用しており、固体試料の場合、面がスリ面でも測定可能です。測定のご要望がございましたら、ぜひお問い合わせ下さい。

※アッベ式での測定をご希望の場合は、ご相談ください。

測定試料の形態

材質

ガラス、樹脂、液体

透過率は30%以上あると安定して測定できます。
30%以下となる場合にはご相談ください。
光を当てた際に拡散や性状が変化する試料、異物(気泡含む)や毒劇物等を含む試料は、お断りさせていただく場合があります。

サイズ

ブロック・板 3mm × 3mm × 1t 以上
レンズ形状 φ5 以上、厚さ 1mm 以上
液体 5ml 以上

測定前加工(ガラス・樹脂のみ)

角度:90°±1'、 面精度:#230 以上のスリ面
※当社での切断・研磨をご希望の場合はご相談ください。

vblock

屈折率測定手法および使用機器

  • Vブロック式(精密屈折計 KPR-3000)

屈折率測定範囲および精度

  KPR-3000
範囲 1.25~2.28
精度 ±2x10-5
  • ※試料の特性などにより、精度が保証できない場合があります。

測定条件

受託測定サービスをご利用の際は、ご希望の測定条件を指定できます。
基本項目:①サンプル数、②測定回数、③当社へのサンプル加工依頼の有無、④測定温度設定の有無(10~80℃)、⑤測定波長(詳細は下表)

波長(測定スペクトル線)

波長 [nm] 基準・推奨
波長(※)
スペクトル線記号 ランプ記号 KPR-3000 KPR-30A
365.01 i Hg
404.66 h Hg
435.83 g Hg
479.99 F' Cd
486.13 F H2
546.07 e Hg
587.56 d He
632.8 --- He-Neレーザー
643.85 C' Cd
656.27 C H2
706.52 r He
785 --- 半導体レーザー
830 --- 半導体レーザー
1013.98 t Hg
1310 --- 半導体レーザー
1550 --- 半導体レーザー
  • ※最大16波長までご指定できます。
  • ※基準波長および推奨波長は、光学材料、光学系及び光学機器、並びに眼用レンズの特性を記述するため、
      JIS B 7090:1999「光学及び光学機器―基準波長」(ISO 7944:1998)で規定されています。
  • ※「基準・推奨波長」欄の凡例(◎:基準波長、○:推奨波長)
  • ※試料の特性などにより、測定出来ない波長があります。
  • ※内挿による指定波長での算出も可能です。

測定条件例

サンプル数 1個
測定回数 1回
当社へのサンプル加工依頼 無し
測定温度設定 無し(室温)
測定波長 1波長(可視光)

ご希望の測定条件により費用は変動しますので、詳しくはお問い合わせ下さい。

お問い合わせ