Vブロックプリズム
固体用、固体用温調付き、液体用温調付きで測定範囲が異なる3種類を用意しています。
（No.1：1.20～1.78、No.2：1.45～2.05、No.3：1.68～2.28※）
ご要望により、指定の硝材での作成も承ります。
- ※ KPR-3000との組合せで測定した場合の測定範囲です。
アッベプリズム
温調付きで測定範囲が異なる2種類を用意しています。
（No.1：1.20～1.55、No.2：1.55～1.97）
光学素材の測定に適した1.40～1.75の測定範囲のプリズムもご用意できます。
ご要望により、指定の硝材での作成も承ります。
アッベ測定用ガラス基板
KPR-30Aのアッベ式で屈折率を測定する際に使用できるガラス基板です。
接着剤や熱硬化性の樹脂など直接プリズムに置く事ができない試料を測定する場合に使用します。
使用方法の例はこちらをご覧ください。
測定波長追加（光源・検出器・干渉フィルタ）
測定波長を追加するためのCdランプやHe-Neレーザなどの光源ユニット、フィルタ、検出器など一式のセットになります。機種により、搭載できる波長や搭載数の制限が異なります。
恒温装置
試料の温度を調整して測定したい場合に、温調付きのプリズムと組合せて使用します。10～70℃の範囲で設定が可能です。
簡易角度測定器
試料の角度を簡易的に測定する事ができます。
試料研磨機
Vブロック法で測定するための試料の直角を簡便に仕上げる器具です。
ガラス試料用とプラスチック試料用の2種類をご用意しています。
サンプルバイス
試料研磨機と組合せて使用する微小サンプルの直角加工に便利な器具です。
微小サンプルを貼り付けるためのガラス基板と接着剤が付属します。
試料切断機
プラスチックの試料を切断する場合に使用します。
分布測定アタッチメント
Vブロックプリズムにスリットが入ったアタッチメントを取付けることにより、サンプルの厚さ方向での屈折率変化や分布曲線を測定することができます。
- ※ KPR-2000でのみ使用できます。
