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製品写真：走査電子顕微鏡「SUPERSCAN SS-2000」

• ※写真はオプションを含みます。

島津製作所は6月9日に走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope、以下SEM）、「SUPERSCAN SS-2000」3機種を日本国内で発売しました。業務提携を結ぶ、走査電子顕微鏡メーカーであるチェコ共和国のTESCAN社との共同ブランド「Shimadzu by TESCAN」の新機種です。「SUPERSCAN SS-4000」「SUPERSCAN SS-3000」が持つ基本機能を踏襲した汎用機種となります。「SS-2000」は金属・高分子などの材料解析や粒子・異物の品質管理用途に適しています。当社は日本語対応のソフトウェアやマニュアルを整備して、分析・操作から保守・点検・修理などのアフターサービスまでをトータルで提供します。

電子顕微鏡はナノ領域の表面観察が可能な、科学技術の研究で必須の装置です。「電子線を試料に照射し、試料から発生する二次電子や反射電子を検出して表面の形状や組成の違いを観察」という原理のため、帯電しやすい(非導電性)試料の観察は困難でしたが、「SUPERSCAN SS」シリーズは、帯電を抑制できる低加速での観察が可能で、セラミックや樹脂など非導電性試料に対して最適な解像度とコントラストの画像が得られます。また、観察時の電圧・電流変更におけるビーム特性変化により生じる画像の明るさやフォーカスが自動調整されるため業務効率が向上します。「SUPERSCAN SS-2000」は、元素分析において専用ソフトウェア「Essense」による高い操作性を実現しています。島津製作所は、「Shimadzu by TESCAN」を通じて、様々な研究開発向けに付加価値の高いソリューションを提供していきます。

新製品の特長

1. 鮮明な画像を広域から詳細までシームレスに実現

上位機種「SS-4000/3000」のベースとなる独自の光学系により、あらゆる試料の微細な観察が可能です。
また、極低倍率2倍からの観察を実現するWide Field Opticsにより歪みを抑えた画像が得られます。

2. 条件によらず最適なビームを自動調整

専用ソフトウェア「Essence」の光学系制御により、電圧・電流変更で生じる画像の明るさやフォーカスを自動調整するIn Flight Beam Tracingが分析ワークフローを削減できます。

3. 低真空でクリアな画像を実現

非導電性試料の観察には帯電によって像が白く浮き上がって見えるチャージアップ現象の防止のために低真空状態が必要です。本製品では7～500Paまでの低真空範囲に対応可能です。一般的なSEMでは低真空において窒素ガスを用いますが、本製品では信号増幅率の大きい水蒸気雰囲気による独自の検出システムを採用しているため、低真空での高感度観察に有効です。

• ※Wide Field Optics、In Flight Beam TracingはTESCAN社の登録商標になります。
  ※特長3.は可変低真空に対応するSS-2000 LMUとSS-2000 GMUが対象です。

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