半導体の研究・開発では，基本的な物性量であるバンド ギャップ（禁制帯幅）の測定が行われます。多結晶シリコンウェハを測定し、オプションソフトウェアであるバンドギャップ計算エクセルマクロを使用して、バンドギャップを算出可能です。

太陽電池用型ガラスは透過率測定を行う場合、表面に凹凸があり、照射した光が乱反射するため、積分球内での光の挙動が、ベースライン補正時と試料測定時で大きく異なります。これが原因で検出器の切替波長で段差が生じることがあります。紫外可視分光光度計UV-3600iPlusとISR-1503（三検出器搭載 150 mmφ 積分球）を用いることにより、検出器切替波長でほとんど段差のないスペクトルが得られます。