透明素材の開発・品質管理に貢献
Kalnew Precision Refractometer KPR-3000
仕様
| 測定範囲 | 屈折率 1.20 ～ 2.28 | |
|---|---|---|
| 標準 | No.1プリズム：1.20 ～ 1.78 | |
| No.2プリズム：1.45 ～ 2.05 | ||
| オプション | No.3プリズム：1.68 ～ 2.28 | |
| 測定精度※1 | 屈折率 ±0.00002 | |
| 測定再現性※1 | 屈折率 ±0.00001 | |
| 測定波長 | 標 準 | d線 587.6 nm Heランプ |
| C線 656.3 nm H2ランプ | ||
| F線 486.1 nm H2ランプ | ||
| g線 435.8 nm Hgランプ | ||
| e線 546.1 nm Hgランプ | ||
| オプション※2 | h線 404.7 nm Hgランプ | |
| i線 365.0 nm Hgランプ | ||
| r線 706.5 nm Heランプ | ||
| t線 1014.0 nm Hgランプ | ||
| C´線 643.9 nm Cdランプ | ||
| F´線 480.0 nm Cdランプ | ||
| He-Neレーザ 632.8 nm | ||
| 半導体レーザ ※3 785 nm | ||
| 半導体レーザ ※3 830 nm | ||
| 半導体レーザ ※3 1310 nm | ||
| 半導体レーザ ※3 1550 nm | ||
- ※1:温度23 ℃、湿度45 %～85 %の室内で、標準測定波長においてNo1プリズムで1.44～1.77、No2プリズムで1.51～1.92の測定を行った場合の精度です。
- ※2:独自の仕様にも変更が可能ですので、ご相談ください。
- ※3:半導体レーザは動作温度により波長が変化することがあります。
屈折率の測定依頼も承っております。 費用は測定個数、測定温度、測定試料の加工などにより変わります。ご相談下さい。