ガラス、プラスチックの開発・品質管理に!!


KPR-2000は、2015年06月を持ちまして、販売終了させて頂きました。
代替機種として、KPR-3000をご検討下さい。
仕様
測定範囲 | 屈折率 1.25~2.00(No1プリズム:1.25~1.70 No2プリズム:1.50~2.00) | |
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測定精度※1 | 屈折率 ±0.00003 | |
測定再現性※1 | 屈折率 ±0.00001 | |
測定波長 | 標 準 | d線 587.6nm Heランプ |
C線 656.3nm H2ランプ | ||
F線 486.1nm H2ランプ | ||
オプション※3 | g線 435.8nm Hgランプ | |
e線 546.1nm Hgランプ | ||
h線 404.7nm Hgランプ | ||
i線 365.0nm Hgランプ | ||
r線 706.5nm Heランプ | ||
C’線 643.9nm Cdランプ | ||
F’線 480.0nm Cdランプ | ||
He-Ne レーザ 632.8nm | ||
半導体レーザ ※2785 nm | ||
半導体レーザ ※2830 nm | ||
半導体レーザ ※21310 nm | ||
半導体レーザ ※21550 nm |
- ※1:温度23℃、湿度45%~85%の室内で、標準測定波長においてNo1プリズムで1.45~1.70、No2プリズムで1.50~1.90の測定を行った場合の精度です。
- ※2:半導体レーザは動作温度により波長が変化することがあります。
- ※3:オプション欄は、過去に特別仕様として取り付けた実績のあるものです。独自の仕様にも変更が可能ですので、ご相談ください。
屈折率の測定依頼も承っております。 費用は測定個数、測定温度、測定試料の加工などにより変わります。ご相談下さい。