[SHIMADZU] 島津評論 Vol.52 [3,4] 小特集　新素材・半導体の分析・試験

島津評論

・	半導体分野へのFTIRの応用
・	直衝突イオン散乱シミユレーションプログラムCOSCATの開発 ―EWS用CAICISS ソフトウェアの開発―
・	島津マイクロマニピユレータシステムMMS-77について ―工業用途への展開―
・	島津オートグラフX線TVシステムによるリサイクル材料レーザ溶接部の機械的特性評価
・	表面の機械的特性評価機器の開発とその応用 ―硬さ，付着力，摩擦，摩耗特性評価機器について―
・	ガラス基板上金属薄膜の硬度測定及び付着性評価 ―島津ダイナミック超微小硬度計DUH-201及び島津走査形スクラッチテスタSST-101の併用―