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比表面積・細孔分布測定装置
自動比表面積/細孔分布測定装置
Micromeritics Automatic Surface Area and porosimetry Analyzer
トライスターII 3020シリーズ
特長:前処理装置仕様
トライスターII 3020シリーズ トライスターII3020シリーズは、3ポート独立同時測定することにより、比表面積・細孔分布測定の処理量を飛躍的にアップさせる事が可能なシステムです。標準形モデルに加え、クリプトン対応形モデルもご用意しています。この場合クリプトンガスを用いることによって、0.001m2/gまでの低比表面積測定が可能となり、医薬品や繊維などの比表面積測定に威力を発揮します。
 
特長
1. 低比表面積の高精度測定を実現
  窒素ガスを用いて0.01m2/gまでの比表面積が測定できます。 さらに、クリプトン対応形モデルでは、クリプトンガスを使用して0.001m2/gまでの低比表面積の測定が可能です。医薬品や繊維などの比表面積測定に威力を発揮します。
 
2. 3つの測定ポートでの独立同時測定機能を搭載
  3つの測定ポートを備え、各ポートにおいて独立した条件で同時測定ができます。例えば3試料のBET多点(3ポイント)測定が約20分で完了します。
 
3. 試料セルは使いやすい大きさ
  セルの試料投入口の外径を 9.5 mmと大きくし、試料の出し入れや、洗浄が簡単に行なえます。
 
4. 30時間の連続無人運転が可能
  液体窒素の液面制御機構として、独自構造の等温ジャケットを採用することにより、正確な吸着測定が行えます。また、測定中は液体窒素の補給は不要で、約30 時間の連続無人運転が可能です。  
 
5. 測定の目的や、要求精度に応じて多彩な測定モードを選択可能
  測定圧力ポイントやガスの導入モードを組み合わせることにより、測定の目的・必要な精度・測定時間などに応じた最適な手法を構築することができます。
 
6. 豊富な解析ソフトウェアを標準装備
  BET法、Langmuir法比表面積からBJH法メソポア細孔分布計算、さらにはt-プロット法、MP法によるマイクロポア解析まで、豊富な解析機能を含むWindowsソフトウェアを標準装備。また、SPC(Statistical Process Control:統計的工程管理)レポート出力も可能です。
 
※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。
特長:前処理装置仕様
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