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粒度分布測定装置
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SALDシリーズでは、光学系だけでなくサンプラについても測定対象となる粒子径範囲に対応した製品群をラインナップしています。
測定範囲一覧を参考にして最適な機種を選択してください。
機種名 SALD-
3100
SALD-
2200
SALD-
7100
SALD-
300V
SALS-
200V ER
特長 粗粒子/高密度粒子対応 スタンダード ナノ粒子対応 微粒子対応
普及型
普及型
測定原理 レーザ回折・散乱法85%
測定範囲
(μm)
0.05〜3000 0.03〜1000 0.01〜300 Model-1
0.1〜50
Model-2
0.1〜350
Model-1
0.25〜50
Model-2
0.25〜350
ひとつの測定原理、ひとつの光学系、ひとつの光源で全測定範囲をシームレスにカバー
光源
(波長)
半導体レーザ
690 680 375 405 670
検出器 81素子 54素子
 湿 式 測 定
サンプラ
(循環式)
●*1 ●*2 ●*3 ●*4
回分セル
(バッチ式)
●*5 ●*6 ●*7 ●*8
高濃度
サンプル
●*9 ●*10 ●*11 ●*12 ●*13
 乾 式 測 定
噴射式 ●*14 ●*15      
自由落下式 ●*16        
*1 SALD-3100用標準サンプラ(P/N 346-63701-10)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*2 SALD-2200用多機能サンプラ(P/N347-60701-10)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*3 SALD-7100用多機能サンプラ(P/N347-60711-10)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*4 Model-2(測定部+サンプラ)をご利用ください。
*5 SALD-3100用回分セル(P/N 321-48338-02)をご利用ください。本体とは別売です。
*6 SALD-2200用回分セル(P/N347-60702)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*7 SALD-7100用回分セル(P/N347-60712)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*8 Model-1およびModel-2に付属しています。
*9 SALD-3100用高濃度サンプル測定システム(P/N 347-60001)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*10 SALD-2200用高濃度サンプル測定システム(P/N347-60703-10)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*11 SALD-7100用高濃度サンプル測定システム(P/N347-60713-10)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*12 SALD-300V用高濃度サンプル測定システム(P/N346-63420)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*13 *12 SALD-200V ER用高濃度サンプル測定システム(P/N346-63141)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。
*14 噴射式乾式測定ユニットSALD-DS21(P/N347-60100)をご利用ください。本体とは別売です。他にSALD-3100用検出部ケース(P/N347-60010)とコンプレッサ、集塵機が必要です。
*15 噴射式乾式測定ユニットSALD-DS21(P/N347-60100)をご利用ください。本体(測定部)とは別売です。他にSALD-2200用検出部ケース(P/N347-60704-10)とコンプレッサ、集塵機が必要です。
*16 自由落下式乾式測定ユニットSALD-DS3(P/N346-61206)をご利用ください。本体とは別売です。他にSALD-3100用検出部ケース(P/N347-60010)と集塵機が必要です。

低濃度サンプルの粒度分布測定には、高感度濁度・粒子径測定装置LATS-1をご利用ください。測定範囲は、0.5〜50μmに限定されますが、0,1〜1ppmの非常に低濃度の測定対象でも粒度分布が測定できます。これは従来の約100倍の超高感度を実現しています。
SALDは島津製作所の登録商標です。
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