セミナー・展示会

* * * 本展示会は終了いたしました * * * 2011年1月19日(水)〜21日(金) 東京ビッグサイト　東4ホール 島津ブース小間番号45-30

高密度実装基板や電子部品の欠陥解析に威力を発揮するマイクロフォーカスＸ線CT装置のほか、実装基板の強度試験を行う 精密万能試験機等の各種評価装置をご紹介いたします。 皆様のご来場をお待ち申し上げております。 会　期 ： 2011年1月19日(水)〜21日(金) 10：00〜18：00 [21日（金）のみ17：00終了] 会　場 ： 東京ビッグサイト 東京都江東区有明 3-21-1 主　催 ： リード エグジビション ジャパン（株） 展示会公式サイト

※ 当社では、ご案内状（主催者発行の無料招待券つき）をご用意しておりますので、お近くの当社 支店・支社・営業所までお問い合わせ下さい。無料招待券をお持ちでない場合は、入場料（\5,000）が必要です。

出展社による製品・技術セミナー

1月21日（金）13:40〜14:40　C 会場 先着順、聴講無料 ■世界最速演算CTによる電子部品三次元解析、製造検証 はんだ接合部の検査や、熱サイクル評価試験、樹脂成型製造検証など様々な分野で活躍している産業用X線CT装置を紹介します。 マイクロフォーカスX線CTシステム inspeXio[インスペクシオ] SMX-225CT

出展製品及びアプリケーション事例

歪Si-Geの クロスハッチ構造分析   ワイヤー流れ率測定   基板45°はくり治具     ピークポジション分布図   斜めCT： ハンダボールのPCT 撮影例                   ラマン分光光度計 inVia シリーズ   マイクロフォーカス Ｘ線透視装置 SMX-1000   卓上精密万能試験機 オートグラフ AG-Xplus SC ※展示品は都合により変更される場合があります。