Shimadzu Device Corporation

株式会社島津デバイス製造

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 トップ > 製造品目 > 精密屈折計 > 精密屈折計 KPR-2000
ガラス、プラスチックの開発・品質管理に!! 
精密屈折計 KPR-200 カルニュー製品
精密屈折計 KPR-200 KPR-2000とオプション

■特長
  試料をセットして開始ボタンを押せばコンピュータで設定した測定条件に従って自動測定し測定結果が表示されます。
  自動光電検出とコンピュータ制御で高い精度と再現性が得られます。
  3波長の測定時間は、わずか1分です。
  エネルギー分布グラフの表示により、複屈折の存在が推定できます。
  試料とVブロックプリズムの間に接触液を使用するため、2面を90度に加工すればスリ面のままで測定できます。
  マウスを使って測定条件を選択するだけで、簡単に操作できます。
  最大10波長まで取り付け可能ですので、ユーザが自由に必要な波長が選択できます。(注1)
    注1:波長組み合わせにより選択できない場合もあります。

■用途

ガラス・プラスチック等の透明試料の屈折率測定、透明液体の屈折率測定

操作画面
制御ソフトは、Windows版ですのでグラフィカルでわかりやすい操作を実現しました。市販の表計算ソフトなどでデータが読み込めますので資料作りにも最適です。
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仕様
測定範囲 屈折率 1.25〜2.00(No1プリズム:1.25〜1.70 No2プリズム:1.50〜2.00)
測定精度*1 屈折率 ±0.00003
測定再現性*2 屈折率 ±0.00001
測定波長範囲 365nm〜1550nm
測定波長 標 準
d線 587.6nm Heランプ
C線 656.3nm H2ランプ
F線 486.1nm H2ランプ
オプション*3
g線 435.8nm Hgランプ
e線 546.1nm Hgランプ
h線 404.7nm Hgランプ
i線 365.0nm Hgランプ
r線 706.5nm Heランプ
C’線 643.9nm Cdランプ
F’線 480.0nm Cdランプ
He-Ne レーザ 632.8nm  
半導体レーザ *2 785 nm
半導体レーザ *2 830 nm
半導体レーザ *2 1310 nm
半導体レーザ *2 1550 nm
オプション品のページはこちら
*1 温度23℃、湿度45%〜85%の室内で、標準測定波長においてNo1プリズムで1.45〜1.70、No2プリズムで1.50〜1.90の測定を行った場合の精度です。
*2 半導体レーザは使用条件により波長が変化することがあります。
*3 オプション欄は、過去に特別仕様として取り付けた実績のあるものです。独自の仕様にも変更が可能ですので、ご相談ください。
屈折率の測定依頼も承っております。
費用は測定個数、測定温度、測定試料の加工などにより変わります。ご相談下さい。
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